KMS Of Academy of mathematics and systems sciences, CAS
| 基于信仰推断的电子设备可靠性增长数据分析 | |
杨军1; 赵宇1; 于丹2
| |
| 2008 | |
| 发表期刊 | 北京航空航天大学学报
 |
| ISSN | 1001-5965 |
| 卷号 | 034期号:009页码:995 |
| 摘要 | 可靠性增长是可靠性工程的重要方面，但针对工程中普遍存在的各阶段小样本试验数据，基本上还没有有效的分析方法．为此，首先研究推广了参数受限制的Fiducial方法，而对于非位置一刻度簇分布，使用规范化的似然方法进行推广，并指出采用Fiducial方法得到的评估结果具有很好的频率性质；然后在顺序单调约束的可靠性增长模型下，使用参数受限制的Fiducial方法研究了电子产品的可靠性评估方法，具体给出了故障可观测情形和区间数据情形下电子产品失效率的置信上限． |
| 语种 | 英语 |
| 文献类型 | 期刊论文 |
| 条目标识符 | http://ir.amss.ac.cn/handle/2S8OKBNM/49715 |
| 专题 | 系统科学研究所 |
| 作者单位 | 1.北京航空航天大学 2.中国科学院数学与系统科学研究院 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 杨军,赵宇,于丹. 基于信仰推断的电子设备可靠性增长数据分析[J]. 北京航空航天大学学报,2008,034(009):995. |
| APA | 杨军,赵宇,&于丹.(2008).基于信仰推断的电子设备可靠性增长数据分析.北京航空航天大学学报,034(009),995. |
| MLA | 杨军,et al."基于信仰推断的电子设备可靠性增长数据分析".北京航空航天大学学报 034.009(2008):995. |
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