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一类riemann张量指标表达式的标准型完全分类及其在微分几何中的应用
刘姜1; 李洪波2; 张立先2
2013
Source Publication中国科学数学
ISSN1674-7216
Volume43Issue:4Pages:399
Abstract本文研究了n维微分几何中Riemann张量指标表达式的标准型完全分类问题,通过引入指标结构图的概念,证明了规范类型单项式都是标准型,并且构成次数不大于5的Sakai类型单项式的正交基底,由此得到Sakai类型单项式的标准型完全分类,这是次数大于3时标准型完全分类问题的第一个结果.同时给出了相应标准化算法,通过比较说明了该算法比现有算法更加简便,最后应用于自动推导和证明微分几何中关于Riemann张量的一些公式.
Language英语
Document Type期刊论文
Identifierhttp://ir.amss.ac.cn/handle/2S8OKBNM/49648
Collection系统科学研究所
Affiliation1.上海理工大学
2.中国科学院数学与系统科学研究院
Recommended Citation
GB/T 7714
刘姜,李洪波,张立先. 一类riemann张量指标表达式的标准型完全分类及其在微分几何中的应用[J]. 中国科学数学,2013,43(4):399.
APA 刘姜,李洪波,&张立先.(2013).一类riemann张量指标表达式的标准型完全分类及其在微分几何中的应用.中国科学数学,43(4),399.
MLA 刘姜,et al."一类riemann张量指标表达式的标准型完全分类及其在微分几何中的应用".中国科学数学 43.4(2013):399.
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