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两因素随机效应模型下平均暴露量的检验
牟唯嫣1; 徐兴忠1; 熊世峰2
2007
发表期刊系统科学与数学
ISSN1000-0577
卷号027期号:001页码:134
摘要通过两因素随机效应模型来研究某一工厂的平均暴露(exposure)水平.利用广义检验变量和广义枢轴量分别给出了相关假设检验问题的广义p-值.证明了由广义p-值所确定的拒绝域的概率在原假设下取上确界等于在原假设和备择假设的公共边界上取上确界,且进一步证明了当参数趋于原假设和备择假设的公共边界的边界时,犯第一类错误的概率趋于名义显著性水平,并在公共边界的内部做了模拟研究.结果表明,用广义p-值的方法来解决此类问题可得到令人满意的结果.
语种英语
文献类型期刊论文
条目标识符http://ir.amss.ac.cn/handle/2S8OKBNM/39948
专题系统科学研究所
作者单位1.北京理工大学
2.中国科学院数学与系统科学研究院
推荐引用方式
GB/T 7714
牟唯嫣,徐兴忠,熊世峰. 两因素随机效应模型下平均暴露量的检验[J]. 系统科学与数学,2007,027(001):134.
APA 牟唯嫣,徐兴忠,&熊世峰.(2007).两因素随机效应模型下平均暴露量的检验.系统科学与数学,027(001),134.
MLA 牟唯嫣,et al."两因素随机效应模型下平均暴露量的检验".系统科学与数学 027.001(2007):134.
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